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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本npinet多功能高穩(wěn)定性調(diào)光光源裝置 兼具高穩(wěn)定性與多功能性的光源裝置。 采用通用調(diào)光（選配），實現(xiàn)平滑且精密的亮度調(diào)節(jié)。
2025-12-16
經(jīng)銷商
93
日本npinet金屬鹵化物燈365w高功率光源 采用大功率直流點(diǎn)燈 HID 燈，光量達(dá)到公司原 250 W 機(jī)（PCS-UMX250）的約 1.8 倍 燈壽命約 2 000 h（光量降至初始 60 %），連續(xù)運(yùn)行仍保持高穩(wěn)定性
2025-12-16
經(jīng)銷商
125
日本npinet硅晶圓缺陷檢查近紅外鹵素光源 PIS-UHX = 150 W 直流鹵素 + 即插濾片 + 光纖輸出，在 900-1 700 nm 波段為產(chǎn)線/實驗室提供高穩(wěn)定、可定制的近紅外照明，輕松實現(xiàn)“可見光看不到”的內(nèi)部質(zhì)量檢測。
2025-12-16
經(jīng)銷商
112
Yamada山田光學(xué)玻璃基板劃傷缺陷檢查燈 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查，可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。 憑借高照度照明，可識別表面小至 0.2 μm 的微小顆粒。
2025-12-16
經(jīng)銷商
115
日本yamada山田光學(xué)光掩膜缺陷鹵素檢查燈 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查，可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。
2025-12-16
經(jīng)銷商
117
Yamada山田光學(xué)0.2μm微小顆粒識別鹵素?zé)? 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查，可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。
2025-12-16
經(jīng)銷商
87
Yamada山田光學(xué)潔凈室晶圓檢測鹵素光源 高亮度鹵素光源裝置是潔凈室內(nèi)半導(dǎo)體晶圓表面品質(zhì)管理的工具，憑借高照度照明，可識別表面小至 0.2 μm 的微小顆粒。
2025-12-16
經(jīng)銷商
109
日本lightest薄膜樹脂缺陷透射檢查點(diǎn)光源 點(diǎn)光源高指向性，微小劃痕也能放大可見 高亮度、均勻照度，約60°寬照射角
2025-12-11
經(jīng)銷商
108
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